Powder
X-ray Diffraction (PXRD) menawarkan sebuah metode yang akurat untuk karakterisasi material lewat
struktur kristalnya. Ketika sebuah kristal terdiri dari atom yang teratur dengan
pola berulang disinari dengan berkas sinar-x monokromatik, maka akan
menghasilkan sebuah “sidik jari” yang unik dalam bentuk puncak difraksi. Dengan
proses difraksi ini, sebuah powder diffractogram digunakan untuk
mengidentifikasi komponen kristalin pada sebuah sampel. Gambar 1.3 menunjukkan
sebuah contoh ketika powder diffraction mampu dengan mudah dan jelas
mengidentifikasi dua bentuk kristalin dari Titanium dioksida, rutile dan anatase,
meskipun keduanya dari komposisi elemen yang identik (misal TiO2). Variasi struktur kristal yang yang dimiliki oleh sebuah komposisi kimia atau senyawa yang sama disebut polymorph.
Gambar
1.3 (a) Struktur kristal anatase (TiO2) dengan unit sel ditunjukkan
menggunakan titik-garis, (b) pola powder X-ray diffractogram dari
anatase pada panjang gelombang sinar-x Cu (1,54056 Å), (c) struktur kristal rutile (TiO2) dengan unit sel ditunjukkan
menggunakan titik-garis, (d) pola powder X-ray diffractogram dari rutile
pada panjang gelombang sinar-x Cu, (e) pola powder X-ray diffractogram dari
campuran anatase dan rutile dengan perbandingan volume 50:50 pada panjang
gelombang sinar-x Cu. Fase kristalin mewakili setiap puncak pada diffractogram
ditandai “A” (anatase) atau “R” (rutile). (Struktur kristal digambar oleh
Ian Swainson menggunakan perangkat lunak CrystalMaker, pola dihitung
menggunakan PowderCell)
No comments:
Post a Comment